
Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Flickermeter—Functional and design specifications
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17626.15-2011
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17626.15-2011
發(fā)布時(shí)間:2011-12-30
實(shí)施時(shí)間:2012-08-01
首發(fā)日期:2011-12-30
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:壽建霞、錢(qián)振宇、葉瓊瑜、程麗玲、孟志平、劉媛、肖瀟、鄭軍奇、劉曉東等
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): 電磁兼容
ICS分類(lèi):電磁兼容性(EMC)
提出單位:全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 246)
起草單位:上海電器科學(xué)研究院、上海三基電子工業(yè)有限公司等
歸口單位:全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 246)
發(fā)布部門(mén):中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén):全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 246)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本部分規(guī)定了閃爍測(cè)量?jī)x器的功能和設(shè)計(jì)規(guī)范,旨在為所有實(shí)際的電壓波動(dòng)波形顯示正確的閃爍感知電平。本部分列出了組建這樣一種儀器的信息,并給出了基于符合本部分的閃爍儀的輸出結(jié)果來(lái)評(píng)估閃爍嚴(yán)酷度的方法。本部分有些內(nèi)容是基于國(guó)際電熱聯(lián)盟(UIE)“騷擾”工作組的工作,有些內(nèi)容是基于IEEE的工作,其他內(nèi)容是基于IEC本身的工作。本閃爍儀規(guī)范,涉及輸入為230V/50Hz和120V/60Hz的測(cè)量;對(duì)于其他電壓和頻率的規(guī)范正在考慮中。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
GB/T17626《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》分為以下部分: GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論 GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度 GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則 GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.12—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn) 本部分為GB/T17626的第15部分。 本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本部分等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-15:1997+A1:2003(第1.1版)《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范》,并進(jìn)行如下編輯性修改: ———對(duì)規(guī)范性引用文件中引用的IEC61000-4系列和IEC61010-1標(biāo)準(zhǔn),因其版本過(guò)低,同時(shí)考慮到這些標(biāo)準(zhǔn)換版頻繁,因此將其對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)修改為不注日期引用; ———對(duì)表4~表8的序號(hào)進(jìn)行了調(diào)整。本部分的表4對(duì)應(yīng)IEC61000-4-15:1997+A1:2003中的表8,是2003年修訂件的新增表格;為保證標(biāo)準(zhǔn)全文表格序號(hào)的連續(xù)性,將其表格序號(hào)變更為表4,其后所有的表格序號(hào)依次調(diào)整。 本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC246)提出并歸口。 本部分負(fù)責(zé)起草單位:上海電器科學(xué)研究院、上海三基電子工業(yè)有限公司。 本部分主要起草人:壽建霞、錢(qián)振宇、葉瓊瑜、程麗玲、孟志平、劉媛、肖瀟、鄭軍奇、劉曉東。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
前言 Ⅰ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 儀器描述 2 4 規(guī)范 4 5 性能測(cè)試 8 6 型式試驗(yàn)和校準(zhǔn)規(guī)范 9 附錄A (規(guī)范性附錄) 提高閃爍評(píng)估準(zhǔn)確度的方法 15 A.1 線(xiàn)性?xún)?nèi)插法 15 A.2 非線(xiàn)性?xún)?nèi)插法 15 A.3 偽零截取 15 A.4 非線(xiàn)性分類(lèi) 16 附錄B(資料性附錄) ΔV/V 的含義和電壓變化的次數(shù) 17 參考文獻(xiàn) 18 |
推薦檢測(cè)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦認(rèn)證機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦培訓(xùn)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~