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四探針電阻率測試儀檢定規程

Verification Regulation of Resistivity Measuring Instruments with Four-Probe Array Method
標準號:JJG 508-2004
基本信息
標準號:JJG 508-2004
發布時間:2004-09-21
實施時間:2005-03-01
首發日期:
出版單位:中國計量出版社查看詳情>
起草人:魯效明、謝鴻波
出版機構:中國計量出版社
標準分類: 無線電計量
ICS分類:電學、磁學、電和磁的測量
起草單位:中國計量科學研究院
歸口單位:全國無線電計量技術委員會
發布部門:國家質量監督檢驗檢疫總局
標準簡介
本規程適用于接觸式,測量范圍在10-3Ω?㎝—10 3Ω?㎝的四探針電阻率測試儀的首次檢定,后續檢定的和使用中檢驗。對某些多功能的四探針電阻率測試儀或只能測量方塊電阻四探針測試儀也同樣適用。方塊電阻的測量范圍在10-2Ω/□—10 2Ω/□。本規程不適用于二探針、三探針、六探針及方型四探針電阻率測試儀的檢定。
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