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硅中氯離子含量的測定 離子色譜法
硅中氯離子含量的測定 離子色譜法 現行
Test method for chloride content of silicon—Ion chromatography method
標準號：GB/T 37385-2019
基本信息
標準號：GB/T 37385-2019
發布時間：2019-03-25
實施時間：2020-02-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：王桃霞、劉逸楓、劉曉霞、劉源君、耿全榮、梁博松、魯文鋒、胡議允、賈芬、張佳偉、陳飛、劉國霞、邱艷梅、宗冰、李素青
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半金屬及半導體材料分析方法
ICS分類：金屬材料試驗
提出單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會(SAC/TC 203/SC 2)
起草單位：江蘇中能硅業科技發展有限公司、新特能源股份有限公司、亞洲硅業(青海)有限公司、新疆協鑫新能源材料科技有限公司、蘇州漢譜埃文材料科技有限公司、有色金屬技術經濟研究院
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會(SAC/TC 203/SC 2)
發布部門：國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了硅中氯離子含量的離子色譜測定方法。本標準適用于測定棒狀、塊狀、顆粒狀和片狀硅中氯離子含量的測定。測定范圍為1.0 μg/g至硅中氯離子的最大固溶度。
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