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高純砷化學(xué)分析方法 極譜法測定硫量 現(xiàn)行

Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Predicating method for determinating the concentration of sulfur

標(biāo)準(zhǔn)號：YS/T 34.3-2011

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：YS/T 34.3-2011
發(fā)布時間：2011-12-20
實施時間：2012-07-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：程高明、唐云博
出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法
ICS分類：金屬材料化學(xué)分析
起草單位：峨嵋半導(dǎo)體材料廠
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：中華人民共和國工業(yè)和信息化部
主管部門：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高純砷中硫含量的測定方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于砷(99.999%)中硫含量的測定。測定范圍: 0.00003%～0.00015%。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

YS/T34《高純砷化學(xué)分析方法》包括3個部分:
———第1部分:高純砷化學(xué)分析方法 電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)測定高純砷中雜質(zhì)含量;
———第2部分:高純砷化學(xué)分析方法 極譜法測定硒量;
———第3部分:高純砷化學(xué)分析方法 極譜法測定硫量。
本部分是YS/T34的第3部分。
本部分代替YS/T34.4—1992《高純砷化學(xué)分析方法 極譜法測定硫量》。
本部分按照GB/T1.1—2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分:標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》的規(guī)定編寫。
本部分由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。
本部分負(fù)責(zé)起草單位:峨嵋半導(dǎo)體材料廠。
本部分主要起草人:程高明、唐云博。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———YS/T34.4—1992。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)公告

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采標(biāo)情況

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