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晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測(cè)試方法

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 37983-2019
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 37983-2019
發(fā)布時(shí)間:2019-08-30
實(shí)施時(shí)間:2020-03-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:郭愛(ài)、史學(xué)芳、嚴(yán)富學(xué)、李飛、郭振琪
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 物質(zhì)成分分析儀器與環(huán)境檢測(cè)儀器綜合
ICS分類:有關(guān)化學(xué)分析方法的其他標(biāo)準(zhǔn)
提出單位:中華人民共和國(guó)科學(xué)技術(shù)部
起草單位:陜西省分析測(cè)試協(xié)會(huì)、西北工業(yè)大學(xué)、西安理工大學(xué)、西安交通大學(xué)
歸口單位:全國(guó)儀器分析測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 481)
發(fā)布部門:國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用X射線衍射儀,在測(cè)試中對(duì)樣品進(jìn)行旋轉(zhuǎn),從而確定晶體材料取向的測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體材料取向的測(cè)試。
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