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電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法 已作廢

Basic environmental testing procedures for electric and electronic products--Tests A:Cold

標(biāo)準(zhǔn)號：GB 2423.1-1989

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB 2423.1-1989
發(fā)布時間：1989-03-22
實施時間：1990-01-01
首發(fā)日期：
起草人：
標(biāo)準(zhǔn)分類： 環(huán)境條件與通用試驗方法
起草單位：廣州電器科學(xué)研究所

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