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微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析 現(xiàn)行

Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 32055-2015

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 32055-2015
發(fā)布時間：2015-10-09
實施時間：2016-09-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：陳振宇、李香庭、曾毅、周劍雄。
出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：物理化學(xué)分析方法
提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所、中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用電子探針波譜法進行元素面分析的方法。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了移動電子束對試樣掃描的面分析(電子束面分析)和移動試樣臺的面分析(大面積面分析)兩種模式的選擇,給出了五種數(shù)據(jù)處理的方式:原始X射線強度法、K值法、校正曲線法、對比法和基體校正法。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用ISO11938:2012《微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析》(英文版)。
與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下:
———GB/T6379.6—2009 測量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度(正確度與精密度) 第6部分:準(zhǔn)確度值的實際應(yīng)用(ISO5725-6:1994,IDT)
———GB/T20725—2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則(ISO17470:2004,IDT)
———GB/T21636—2008 微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術(shù)語(ISO23833:2006,IDT)
———GB/T28634—2012 微束分析 電子探針顯微分析 塊狀試樣波譜法定量點分析(ISO22489:2006,IDT)
———GB/T30705—2014 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則(ISO14594:2003,IDT)
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位:中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所、中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陳振宇、李香庭、曾毅、周劍雄。

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