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靜電復(fù)印硒鼓 膜層附著力試驗(yàn)方法 已作廢

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JB/T 5533-1991

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JB/T 5533-1991
發(fā)布時(shí)間：1991-07-16
實(shí)施時(shí)間：1992-07-01
首發(fā)日期：
起草人：
作廢日期：2008-03-01
標(biāo)準(zhǔn)分類： 縮微復(fù)印機(jī)械
歸口單位：天津復(fù)印技術(shù)研究所
發(fā)布部門：天津復(fù)印機(jī)所

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了靜電復(fù)印硒鼓膜層附著力的試驗(yàn)方法，其中包括：原理、設(shè)備、度樣、試驗(yàn)步驟和試驗(yàn)報(bào)告。

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