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透射電子顯微鏡檢定規(guī)程 現(xiàn)行

Verification regulation for transmission electron microscope

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG (教委) 011-1996

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG (教委) 011-1996
發(fā)布時(shí)間：2004-03-23
實(shí)施時(shí)間：2004-03-23
首發(fā)日期：
起草人：王永瑞 張大同
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)： 電磁計(jì)量
起草單位：國(guó)家教育委員會(huì)
歸口單位：國(guó)家教育委員會(huì)
發(fā)布部門(mén)：國(guó)家教育委員會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

透射電子顯微鏡(以下簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡)是研究固態(tài)物質(zhì)顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和測(cè)量微小物體的尺寸及形狀的儀器，在材料、地礦、生物和醫(yī)學(xué)等部門(mén)以及工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。本規(guī)程適用于新安裝、使用中和維修后的各類(lèi)透射電鏡的檢定。

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