表面化學分析 納米結構材料表征 現行
Surface chemical analysis—Characterization of nanostructured materials
標準號：GB/T 33498-2017
本標準介紹了利用表面分析技術能獲得的納米結構材料的信息種類，并給出一些例子（見第4章）。本標準不僅指出了表征納米結構材料時的普遍問題或難題，而且指出了使用特定方法時的特有途徑或難題（見第5章）。當物體或材料組成部分的尺寸接近幾個納米時，“塊體”“表面”和“顆粒”分析之間的差異就變得模糊不清。本標準除明確了表征納米結構材料時的一些普遍問題外，它重點明確了與納米結構材料表面化學分析具體相關的問題。本標準涉及多種分析和表征方法，但其重點仍是表面化學分析專業范圍內的方法，包括俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、二次離子質譜和掃描探針顯微術等。納米顆粒表面性質（如表面電勢）的某些類型測量常常是在溶液中進行的，本標準不涉及這部分內容。盡管納米級厚度薄膜和均勻納米顆粒集合有很多相似之處，但表征它們面臨不同的難題。本標準舉例說明了既適用于薄膜又適用于顆粒或納米物體的表征方法。能確定的性質包括存在的污染、涂層的厚度和加工前后的表面化學性質。除明確能獲得的信息種類外，本標準也概括了分析前或分析過程中必須考慮的普遍問題和特定技術問題，包括需確定的信息、穩定性和探針影響、環境影響、樣品處理問題和數據的解釋。?本標準介紹了使用一系列特定的表面分析方法可獲得的納米材料信息，但這些信息從本質上說不可能是完整的。然而，本標準提供了重要的途徑、思路和問題，同時提供了很多參考文獻以便于根據需要對這些問題進行更深入的分析研究。
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