表面化學分析——X射線光電子能譜-荷電控制和荷電校正方法的報告 現行
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
標準號：GB/T 25185-2010
基本信息
標準號：GB/T 25185-2010
發布時間：2010-09-26
實施時間：2011-08-01
首發日期：2010-09-26
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：吳正龍
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：北京師范大學分析測試中心
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會
標準簡介
本標準以最少量的資料描述了用X射線光電子能譜測量絕緣樣品內能級結合能,及將在報告其分析結果時所采用的荷電控制和荷電校正方法,也給出了在結合能測量過程中對于荷電控制和荷電校正有用的方法資料。
標準摘要
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本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。 本標準等同采用ISO19318:2004《表面化學分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告》。 本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口。 本標準負責起草單位:北京師范大學分析測試中心。 本標準主要起草人:吳正龍。 |
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