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半導(dǎo)體器件 第12-4部分: 光電子器件 纖維光學(xué)系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的Pin-FET模塊空白詳細(xì)規(guī)范 現(xiàn)行

Semiconductor devices-Part 12-4:Optoelectronic devices-Blank detail specification for pin-FETmoules with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18904.4-2002

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18904.4-2002
發(fā)布時(shí)間：2002-12-04
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
首發(fā)日期：2002-12-04
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：趙英
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體光敏器件
ICS分類：光電子學(xué)、激光設(shè)備
提出單位：中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（CESI）
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén)：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
主管部門(mén)：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

IEC 電子器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC章程并在IEC授權(quán)下工作。該體系地目的試確定質(zhì)量評(píng)定程序，尾這種方式使一個(gè)參加國(guó)按有關(guān)規(guī)范要求放行地電子器件無(wú)需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國(guó)同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范使半導(dǎo)體器件地一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，并應(yīng)與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半導(dǎo)體器件 第十部分 分立器件和集成電路總規(guī)范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半導(dǎo)體器件 第12部分 光電子器件分規(guī)范

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