表面化學分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報告的規(guī)范要求 現行
Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
標準號：GB/T 32998-2016
基本信息
標準號：GB/T 32998-2016
發(fā)布時間：2016-10-13
實施時間：2017-09-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：張增明、丁澤軍、毛世峰、曾榮光、達博、張鵬、阮矚、唐濤
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國科學技術大學物理學院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規(guī)定了在電子激發(fā)絕緣樣品的俄歇電子能譜測量中，描述荷電控制方法所需的最少信息，該信息也一并報告在分析結果中。參見附錄A提供的現有的AES分析前或分析期間荷電控制的有用方法。表A.1對各種方法和途徑進行了總結，并依方法的簡單性排列。表A.1中的一些方法對大多數儀器是可用的，一部分則需要特殊的硬件，還有部分可能涉及樣品的重裝或變動。
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