
Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Emission and immunity testing in transverse electromagnetic(TEM) waveguide
標準號:GB/T 17626.20-2014
GB/T17626的本部分給出了利用各種 TEM 波導進行電子和電氣設備發射和抗擾度試驗的方法。TEM 波導有開放式(例如,帶狀線和電磁脈沖(EMP)模擬器)和封閉式(例如,TEM 室),還可以進一步分為單端口、雙端口和多端口波導。TEM 波導的適用頻率范圍取決于具體的試驗需求和 TEM 波導的具體類型。本部分的目的是給出:———TEM 波導的性能,包括典型的頻率范圍和對 EUT 尺寸的限制;———用于電磁兼容(EMC)試驗的 TEM 波導的確認方法;———EUT(即 EUT 殼體和連接電纜)的定義;———在 TEM 波導中進行輻射發射試驗的試驗布置、步驟和要求;———在 TEM 波導中進行輻射抗擾度試驗的試驗布置、步驟和要求。注:本部分規定的試驗方法用于測量所關心設備的電磁輻射抗擾度和輻射發射。電磁輻射的模擬和測量結果對于定量確定最終安裝使用狀態下的電磁效應是不夠準確的,規定試驗方法的主要目的是保證定性分析電磁效應使用的不同試驗設備所得試驗結果的重復性。本部分的目的不是規定適用于任意特定產品或系統的試驗方法,而是為所有感興趣的產品委員會提供通用的基礎性參考。對于輻射發射試驗,產品委員會應參考國際無線電干擾特別委員會(CISPR)標準1)選擇發射限值和試驗方法。對于輻射抗擾度試驗,由產品委員會負責對其管轄范圍內的設備選擇合適的試驗方法和抗擾度限值。本部分描述的試驗方法獨立于 GB/T17626.32)。
GB/T17626《電磁兼容 試驗和測量技術》目前包括以下部分: GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 抗擾度試驗總論 GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗 GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗 GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗 GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 浪涌(沖擊)抗擾度試驗 GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻場感應的傳導騷擾抗擾度 GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 供電系統及所連設備諧波、諧間波的測量及測量儀器導則 GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 工頻磁場抗擾度試驗 GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗和測量技術 脈沖磁場抗擾度試驗 GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗和測量技術 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗 GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗 GB/T17626.12—2013 電磁兼容 試驗和測量技術 振蕩波抗擾度試驗 GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 交流電源端口諧波、諧間波及電網信號的低頻抗擾度試驗 GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗和測量技術 電壓波動抗擾度試驗 GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗和測量技術 閃爍儀 功能和設計規范 GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗和測量技術 0Hz~150kHz共模傳導騷擾抗擾度試驗 GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗和測量技術 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗 GB/T17626.20—2014 電磁兼容 試驗和測量技術 橫電磁波(TEM)波導中的發射和抗擾度試驗 GB/T17626.24—2012 電磁兼容 試驗和測量技術 HEMP傳導騷擾保護裝置的試驗方法 GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 三相電壓不平衡抗擾度試驗 GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 工頻頻率變化抗擾度試驗 GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗 GB/T17626.30—2012 電磁兼容 試驗和測量技術 電能質量測量方法 GB/T17626.34—2012 電磁兼容 試驗和測量技術 主電源每相電流大于16A 的設備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗 本部分是 GB/T17626的第20部分。 本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。 本部分等同采用國際標準IEC61000-4-20:2010(第2版) 《電磁兼容(EMC) 第4-20部分:試驗和測量技術—橫電磁波(TEM)波導中的發射和抗擾度試驗》。 與本部分中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下: ———GB/T4365—2003 電工術語 電磁兼容性[IEC60050(161):1990,IDT] ———GB/T6113.101—2008 無線電騷擾和抗擾度測量設備和測量方法規范 第1-1部分:無線電騷擾和抗擾度測量設備 測量設備(CISPR16-1-1:2006,IDT) ———GB/T6113.104—2008 無線電騷擾和抗擾度測量設備和測量方法規范 第1-4部分:無線電騷擾和抗擾度測量設備 輔助設備 輻射騷擾(CISPR16-1-4:2005,IDT) ———GB/T6113.203—2008 無線電騷擾和抗擾度測量設備和測量方法規范 第2-3部分:無線電騷擾和抗擾度測量方法 輻射騷擾測量(CISPR16-2-3:2003,IDT) ———GB9254—2008 信息技術設備的無線電騷擾限值和測量方法(CISPR22:2006,IDT) 本部分做了如下編輯性修改: ———5.2.3.2步驟d)的公式引用更正為式(3); ———更正了5.3.2中的式(8); ———式(A.12)中gi,f的說明更改為“gi,f———由 TEM 波導法測量結果換算得到的 OATS等效場強值,單位為伏每米(V/m)”; ———補充了式(1)中量符號的解釋; ———原文中“verification”和“validation”的使用前后不一致,本部分統一為“TEM 的驗證”“場均勻區的確認”; ———對參考文獻編號進行了更正,并更改了正文中相應引用處的編號。 本部分由全國電磁兼容標準化技術委員會(SAC/TC246)提出并歸口。 本部分起草單位:東南大學、上海出入境檢驗檢疫局、中國電力科學研究院、上海市計量測試技術研究院、中國電子技術標準化研究院、中國計量科學研究院。 本部分主要起草人:周忠元、周香、張嫻、景莘慧、蔣全興、李妮、龔增、陳俐、謝鳴。 |
前言 Ⅲ 1 范圍和目的 1 2 規范性引用文件 1 3 術語、定義和縮略語 2 3.1 術語和定義 2 3.2 縮略語 4 4 概述 5 5 TEM 波導要求 5 5.1 概述 5 5.2 使用 TEM 波導的通用要求 5 5.2.1 TEM 模的驗證 5 5.2.2 試驗區域和 EUT 最大尺寸 6 5.2.3 可用試驗區域的確認 6 5.3 對某些類型 TEM 波導的特定要求和建議 8 5.3.1 開放式 TEM 波導的布置 8 5.3.2 雙端口 TEM 波導 TEM 模的替代驗證方法 8 6 EUT 類型 9 6.1 概述 9 6.2 小 EUT 9 6.3 大 EUT 9 7 實驗室試驗環境 9 7.1 概述 9 7.2 氣候環境 9 7.3 電磁環境 9 8 試驗結果的評價與報告 9 附錄 A (規范性附錄) TEM 波導中的發射試驗 11 附錄 B (規范性附錄) TEM 波導中的抗擾度試驗 26 附錄 C (規范性附錄) TEM 波導中的 HEMP瞬態試驗 31 附錄 D (資料性附錄) TEM 波導的特性 36 附錄 E (資料性附錄) TEM 波導中電場探頭的校準方法 42 相關標準和參考文獻 51 圖 A.1 引出電纜被引至位于試驗區域底部和正交角上的角落 19 圖 A.2 基本的正交軸定位裝置或試驗支撐裝置 20 圖 A.3 輻射發射試驗的3個正交軸旋轉方位 21 圖 A.4 典型 EUT 的12面/軸試驗方位 21 圖 A.5 OATS示意圖 22 圖 A.6 雙端口 TEM 室(對稱芯板) 22 圖 A.7 單端口 TEM 室(非對稱芯板) 23 圖 A.8 帶狀線(雙導體) 24 圖 A.9 帶狀線(四導體,平衡饋電) 25 圖 B.1 單極化方向的 TEM 波導的試驗布置 29 圖 B.2 TEM 波導中場均勻區確認的位置點 30 圖 C.1 100kHz到300MHz的頻譜幅值 35 圖 D.1 簡單波導(不存在 TEM 波) 40 圖 D.2 傳輸 TEM 模的波導示例 40 圖 D.3 極化矢量 40 圖 D.4 傳輸 TEM 波的傳輸線 41 圖 D.5 單端口和雙端口 TEM 波導 41 圖 E.1 校準區域的確認測量點示例 43 圖 E.2 探頭擾亂確認布置 43 圖 E.3 到達場強發射設備的凈功率測量布置 46 圖 E.4 電場探頭校準布置舉例 47 圖 E.5 另一種電場探頭校準方法的校準布置 49 圖 E.6 天線和測量儀器的等效電路 49 表 1 正態分布下擴展不確定度的 K 值 8 表 B.1 場均勻區確認的測量位置點 27 表 B.2 試驗等級 28 表 C.1 現行標準定義的輻射抗擾度試驗等級 35 表 E.1 校準頻率點 44 表 E.2 校準場強大小 44 |
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