表面化學分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數的表述 現行
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy -Description of selected instrumental performance parameters
標準號：GB/T 28892-2012
基本信息
標準號：GB/T 28892-2012
發布時間：2012-11-05
實施時間：2013-06-01
首發日期：2012-11-05
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：王水菊、時海燕、孫海珍、吳正龍、劉芬、沈電洪
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：廈門愛勞德光電有限公司、廈門大學化學化工學院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了如何描述X射線光電子能譜儀的特定性能。
標準摘要
|
本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。 本標準使用翻譯法等同采用ISO15470:2004《表面化學分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數的表述》。 為了方便使用,本標準做了下列編輯性修改: ———用“本標準”代替“本國際標準”。 本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。 本標準負責起草單位:廈門愛勞德光電有限公司、廈門大學化學化工學院。 本標準起草人:王水菊、時海燕、孫海珍、吳正龍、劉芬、沈電洪。 |
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
