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微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法 現(xiàn)行

Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Phase analysis method of metal and alloy

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 34172-2017

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 34172-2017
發(fā)布時(shí)間：2017-09-07
實(shí)施時(shí)間：2018-08-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：張作貴、焦匯勝、姚雷、王墉哲
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：化學(xué)分析
提出單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位：上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計(jì)研究院、泰思肯貿(mào)易有限公司、寶鋼集團(tuán)中央研究院、中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電子背散射衍射（Electron backscatter diffraction, EBSD）技術(shù)對(duì)金屬及合金中的相進(jìn)行定性和定量分析時(shí)參數(shù)校正、數(shù)據(jù)采集的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于EBSD對(duì)金屬及合金試樣的相分析，其他多晶或單晶材料的EBSD相分析也可參照?qǐng)?zhí)行。

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