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無(wú)損檢測(cè)儀器 磁粉探傷機(jī)

Non-destructive testing instruments — Magnetic particle flaw detectors
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JB/T 8290-2011
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JB/T 8290-2011
發(fā)布時(shí)間:2011-12-20
實(shí)施時(shí)間:2012-04-01
首發(fā)日期:
出版單位:機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>
起草人:
出版機(jī)構(gòu):機(jī)械工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): X射線(xiàn)、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類(lèi):無(wú)損檢測(cè)
起草單位:長(zhǎng)春試驗(yàn)機(jī)研究所有限公司;南京東電檢測(cè)裝備有限公司、江蘇射陽(yáng)盛捷達(dá)探傷設(shè)備制造有限公司、上海宇光無(wú)損檢測(cè)設(shè)備制造有限公司
歸口單位:全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén):中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了磁粉探傷機(jī)的技術(shù)要求、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則和標(biāo)志與包裝。本標(biāo)準(zhǔn)適用于交流、直流、半波整流及全波整流的探傷機(jī),不適用于磁軛式磁粉探傷儀。
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