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無(wú)損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線CT裝置通用技術(shù)條件 現(xiàn)行

Non-destructive testing instruments—General specification for industrial X-ray computed tomography(CT) equipment

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 26835-2011

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 26835-2011
發(fā)布時(shí)間：2011-07-29
實(shí)施時(shí)間：2011-12-01
首發(fā)日期：2011-07-29
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：武太峰、于志軍、陳浩、董殿剛、邵德峰、向前、張宏、樊永峰
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類：無(wú)損檢測(cè)
提出單位：中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)
起草單位：遼寧儀表研究所、中國(guó)工程物理研究院電子學(xué)研究所等
歸口單位：全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 122)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 122)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)用X射線CT裝置(以下簡(jiǎn)稱CT 裝置)的術(shù)語(yǔ)和定義、基本結(jié)構(gòu)、要求、性能參數(shù)、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于采用X射線管的低能X射線源和采用電子直線加速器的高能X射線源的固定式和移動(dòng)式工業(yè)用X射線CT裝置。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC122)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:遼寧儀表研究所、中國(guó)工程物理研究院電子學(xué)研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:丹東市無(wú)損檢測(cè)設(shè)備有限公司、丹東華日理學(xué)電氣有限公司、四川瑞迪射線數(shù)字影像技術(shù)有限公司、丹東市萬(wàn)全無(wú)損檢測(cè)儀器廠、丹東市探傷儀器廠。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:武太峰、于志軍、陳浩、董殿剛、邵德峰、向前、張宏、樊永峰。

標(biāo)準(zhǔn)目錄

前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 規(guī)范性引用文件 1
3 術(shù)語(yǔ)和定義 1
4 基本結(jié)構(gòu) 2
5 要求 2
5.1 試件范圍 2
5.2 檢測(cè)時(shí)間 2
5.3 切片厚度 2
5.4 重建矩陣 2
5.5 缺陷檢測(cè)能力 2
6 性能參數(shù) 2
6.1 焦點(diǎn) 2
6.2 射線劑量率 2
6.3 空間分辨力 2
6.4 密度分辨率 2
6.5 定位光標(biāo)準(zhǔn)確度 2
7 試驗(yàn)方法 3
7.1 空間分辨力測(cè)試 3
7.2 密度分辨率測(cè)試 4
7.3 定位光標(biāo)準(zhǔn)確度測(cè)定 5
8 檢驗(yàn)規(guī)則 5
8.1 出廠產(chǎn)品檢驗(yàn) 5
8.2 型式檢驗(yàn) 5
9 標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存 6
9.1 標(biāo)志 6
9.2 包裝 6
9.3 運(yùn)輸和貯存 7
附錄A (規(guī)范性附錄) 圓孔型測(cè)試卡法測(cè)試空間分辨力 8
附錄B(資料性附錄) 圓盤法測(cè)試的算法流程 10
參考文獻(xiàn) 15

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