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壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法(用于威布爾分布)

Life test and acceleration life test charts-Evaluation of their Weibull distributions
標(biāo)準(zhǔn)號:GB 2689.2-1981
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB 2689.2-1981
發(fā)布時間:1981-06-22
實施時間:1981-10-01
首發(fā)日期:1981-06-22
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:
出版機構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 可靠性和可維護性
ICS分類:電子元件綜合
提出單位:中華人民共和國第四機械工業(yè)部
起草單位:四機部標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
發(fā)布部門:國家標(biāo)準(zhǔn)總局
主管部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法的程序。它適用于電子器件產(chǎn)品(以下簡稱產(chǎn)品)的壽命服從威布爾分布,其開頭參數(shù)m>0,特征壽命η>0,位置參數(shù)γ=0的情況。可以用來估計產(chǎn)品壽命特征;判斷整個試驗數(shù)據(jù)是否有異常情況或判斷試驗結(jié)果是否符合數(shù)值分析法的試驗假設(shè)。
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