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電信設備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術要求和測量方法(150kHz～1GHz)第6部分:傳導發(fā)射測量 磁場探頭方法 現(xiàn)行

Interior of Telecommunication Equipment-Measurement of Electromagnetic Emissions-150kHz to 1GHz Part 6:Measurement of Conducted Emissions-Magnetic Probe Method

標準號：YD/T 1690.6-2007

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基本信息

標準號：YD/T 1690.6-2007
發(fā)布時間：2007-09-29
實施時間：2008-01-01
首發(fā)日期：
起草人：
標準分類： 電磁兼容
ICS分類：發(fā)射

標準簡介

本部分規(guī)定了用微型磁場探頭以非接觸的電流測量方式來測量集成電路（IC）的管腳的射頻電流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz頻率范圍內(nèi)測量由IC產(chǎn)生的射頻電流。本部分適用于單個IC的測量或者用于標準測試板上的IC芯片組的描述和比較。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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