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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備 廢止

Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products - Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.10-2008

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.10-2008
發(fā)布時間：2008-06-16
實施時間：2009-03-01
首發(fā)日期：1985-05-07
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良
作廢日期：2018-07-01
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：環(huán)境試驗
提出單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)技術(shù)委員會(SAC/TC 8)
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：中國電器工業(yè)協(xié)會
主管部門：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)技術(shù)委員會(SAC/TC 8)

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T 2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T 2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

GB/T5170目前包含以下幾部分:
---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備
---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備
---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備
---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備
---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用機(jī)械振動臺
---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺
---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺
---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機(jī)
---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備
---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備
本部分是GB/T5170的第10部分。
本部分代替GB/T5170.10-1996。與GB/T5170.10-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備;
---所有用詞檢定更改為檢驗;
---增加了術(shù)語和定義一章;
---增加了溫度波動度檢驗項目;
---增加了溫度均勻度檢驗項目;
---檢驗項目綜合檢定溫度平均變化速率更改為綜合檢驗每5min溫度平均變化速率;
---增加了溫度指示誤差檢驗項目;
---增加了氣壓指示誤差檢驗項目;
---增加了溫度過沖量檢驗項目;
---增加了溫度過沖恢復(fù)時間檢驗項目;
---增加了噪聲檢驗項目;
---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2)的要求;
---增加了檢驗負(fù)載一章;
---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
---刪除了檢定過程中的處理部分;
---增加了附錄A檢驗項目的選擇。
附錄A 為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)技術(shù)委員會(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T5170.10-1985;
---GB/T5170.10-1996。

標(biāo)準(zhǔn)目錄

前言Ⅲ
1 范圍1
2 規(guī)范性引用文件1
3 術(shù)語和定義1
4 檢驗項目1
5 檢驗用主要儀器及要求2
6 檢驗負(fù)載2
7 檢驗條件2
8 檢驗方法2
9 數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果7
10 檢驗周期7
附錄A (規(guī)范性附錄) 檢驗項目的選擇8

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