
Identification cards—Recording technique—Part 2:Magnetic stripe—Low coercivity
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 15120.2-2012
GB/T15120的本部分是描述在第4章中定義的識別卡的特性和國際交換中使用識別卡的系列標(biāo)準(zhǔn)之一。本部分規(guī)定了識別卡上低矯頑力磁條(包括任何保護涂層)的特性、編碼技術(shù)、編碼磁道的位置和字符集。根據(jù)人、機兩者因素規(guī)定了最低要求。矯頑力影響到本部分中許多量值的規(guī)定,但本身未作規(guī)定。把卡暴露于磁場之中很可能使已記錄的數(shù)據(jù)被破壞。本部分適用于提供卡應(yīng)遵循的準(zhǔn)則。在這些標(biāo)準(zhǔn)中沒有考慮使用次數(shù),如果需要,則根據(jù)以前卡測試的經(jīng)驗。如果卡不符合規(guī)定準(zhǔn)則,應(yīng)在涉及到的各方中進行協(xié)商。ISO/IEC10373-2規(guī)定了檢查卡符合本部分規(guī)定參數(shù)的測試步驟。注:在本部分中用到的公制和/或英制測量體系中的數(shù)值可能已經(jīng)被換算,但相互間并不完全相等。兩種制式都被使用,但兩者不宜被混雜或被再轉(zhuǎn)換。最初的設(shè)計是使用英制測量體系。
GB/T15120《識別卡 記錄技術(shù)》分為以下幾個部分: ———第1部分:凸印; ———第2部分:磁條 低矯頑力; ———第3部分:ID-1型卡上凸印字符的位置; ———第6部分:磁條 高矯頑力。 本部分為GB/T15120的第2部分。 本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本部分代替GB/T15120.2—1994《識別卡 記錄技術(shù) 第2部分:磁條》、GB/T15120.4—1994 《識別卡 記錄技術(shù) 第4部分:只讀磁道的第1磁道和第2磁道的位置》和GB/T15120.5—1994《識別卡 記錄技術(shù) 第5部分:讀寫磁道的第3磁道的位置》。 鼓勵使用者回顧整個標(biāo)準(zhǔn)的修訂和更新。本次修訂的主要變化如下: a) 在GB/T15120.4—1994和GB/T15120.5—1994中給出的要求已經(jīng)包含在GB/T15120.2的本版本中; b) 將術(shù)語“主標(biāo)準(zhǔn)”修改為“源標(biāo)準(zhǔn)”; c) 增加了部分術(shù)語和定義; d) 增加了部分要求。 本部分修改采用ISO/IEC7811-2:2001《識別卡 記錄技術(shù) 第2部分:磁條 低矯頑力》。 本部分與ISO/IEC7811-2:2001相比,存在如下少量差異: a) 刪除了國際標(biāo)準(zhǔn)前言; b) 刪除了文本中大部分的英制單位,對于工業(yè)界的習(xí)慣用法,某些部分的英制單位仍保留; c) 根據(jù)目前源標(biāo)準(zhǔn)和二極標(biāo)準(zhǔn)的遷移情況,將源標(biāo)準(zhǔn)定義為“一套由德國物理技術(shù)研究院(PTB)建立,并且目前在美國Q-Card保存的基準(zhǔn)卡,代表RM7811-2指定的UR 和IR 的數(shù)值”;將二級標(biāo)準(zhǔn)中的“注”改為“二級標(biāo)準(zhǔn)目前可以從美國Q-Card訂購,地址為:301ReaganStreet, Sunbury,PA17801,USA。二極標(biāo)準(zhǔn)源將至少保存到2012年”; d) 根據(jù)ISO/IEC10373-2的最新版本,刪除了ISO/IEC7811-2:2001的附錄B“信號幅度測量”。 本部分由全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC28)提出。 本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。 本部分起草單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、云南南天電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司、中國樂凱膠片集團公司。 本部分主要起草人:馮敬、段霞、金倩、高林、耿力、袁理、王文峰、喬申杰。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ———GB/T15120.2—1994; ———GB/T15120.4—1994; ———GB/T15120.5—1994。 |
前言 Ⅰ 1 范圍 1 2 符合性 1 3 規(guī)范性引用文件 1 4 術(shù)語和定義 1 5 識別卡的物理特性 3 5.1 磁條區(qū)域翹曲 3 5.2 表面變形 3 6 磁條的物理特性 4 6.1 磁條區(qū)域的高度和表面輪廓 4 6.2 表面粗糙度 6 6.3 磁條與卡的粘合 6 6.4 讀/寫磁頭對磁條的磨損 6 6.5 耐化學(xué)性 6 7 磁性材料的性能特性 6 7.1 總則 6 7.2 測試和操作環(huán)境 6 7.3 對磁介質(zhì)信號幅度的要求 7 8 編碼技術(shù) 8 9 編碼規(guī)范總則 9 9.1 記錄角 9 9.2 標(biāo)稱位密度 10 9.3 第1、第2和第3磁道的信號幅度要求 10 9.4 位構(gòu)成 10 9.5 記錄方向 10 9.6 前導(dǎo)零和后導(dǎo)零 10 10 編碼規(guī)范 11 10.1 字母數(shù)字磁道---第1磁道 11 10.2 數(shù)字磁道---第2磁道 13 10.3 數(shù)字磁道---第3磁道 15 11 差錯檢測 15 11.1 奇偶校驗 15 11.2 縱向冗余校驗(LRC) 15 12 編碼磁道的位置 16 附錄A (資料性附錄) 磁條的讀兼容性(GB/T15120.2和GB/T15120.6) 17 附錄B(資料性附錄) 磁條的研磨性 18 |
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