表面化學分析 X射線光電子能譜（XPS）數據記錄與報告的規范要求 現行
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy(XPS）
標準號：GB/T 33502-2017
基本信息
標準號：GB/T 33502-2017
發布時間：2017-02-28
實施時間：2018-01-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：時海燕、李展平、孫海珍、姚文清、劉芬、王水菊
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：廈門愛勞德光電有限公司、清華大學化學系
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了分析者使用X射線光電子能譜（XPS)分析試樣后應報告信息的最低要求。包括原始記錄和分析記錄的信息。
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