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微束分析 掃描電子顯微術 圖像銳度評估方法
微束分析 掃描電子顯微術 圖像銳度評估方法 現行
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Methods of evaluating image sharpness
標準號：GB/T 33838-2017
基本信息
標準號：GB/T 33838-2017
發布時間：2017-05-31
實施時間：2018-04-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：丁澤軍、阮矚
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國科學技術大學物理學院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
標準簡介
本標準規定了用于評估掃描電子顯微鏡（SEM）生成的數字圖像銳度的3種方法：傅立葉變換（FT）法、襯度?梯度（CG）法、導數（DR）法。
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