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表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜定量成分深度剖析的通用規(guī)程 現(xiàn)行

Surface chemical analysis—General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 32997-2016

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 32997-2016
發(fā)布時(shí)間：2016-10-13
實(shí)施時(shí)間：2017-09-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：張毅、繆樂德、何曉蕾、鄔君飛、陳英穎
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：化學(xué)分析
提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)
起草單位：寶山鋼鐵股份有限公司
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了輝光放電發(fā)射光譜法測定材料表層薄膜的厚度、質(zhì)量（單位面積）和化學(xué)成分的方法。?本標(biāo)準(zhǔn)僅限于輝光放電發(fā)射光譜法深度剖析定量化通用規(guī)程的描述，并不能直接應(yīng)用于具有不同厚度和元素的待測個(gè)體材料的定量化。?注： 任何一個(gè)針對測試材料表面分析的標(biāo)準(zhǔn)均需要明確表層厚度和分析元素，并提供實(shí)驗(yàn)室間共同實(shí)驗(yàn)結(jié)果以確認(rèn)方法的有效性。?

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