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紅外焦平面陣列參數測試方法 現行

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

標準號：GB/T 17444-2013

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基本信息

標準號：GB/T 17444-2013
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：丁瑞軍、梁平治、唐紅蘭、陳洪雷、曹嫵媚、殷建軍、陳世軍
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 紅外器件
ICS分類：光電子學、激光設備
提出單位：中華人民共和國工業和信息化部
起草單位：中國科學院上海技術物理研究所
歸口單位：工業和信息化部電子工業標準化研究所
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：工業和信息化部電子工業標準化研究所

標準簡介

本標準對紅外焦平面陣列特性參數及相關量進行了定義。本標準給出了紅外焦平面陣列特性參數的測試方法及測試條件。本標準適用于線列和面陣紅外焦平面陣列。

標準摘要

本標準按照GB1.1—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T17444—1998《紅外焦平面陣列特性參數測試技術規范》,與GB/T17444—1998相比主要變化如下:
———標準名稱修改為《紅外焦平面陣列參數測試方法》。
———增加了一些參數定義,如:紅外焦平面陣列、像元、幀頻、行頻、固定圖形噪聲、平均峰值探測率、飽和信號電壓、像元噪聲等效溫差。
———增加一些參數測試方法,如:固定圖形噪聲、讀出速率、幀頻。
———增加了附錄D《調制傳遞函數測試方法》、附錄E《非線性度測試方法》。
———修改了部分參數的名稱和定義,如:積分時間、讀出速率、輻照功率、輻照能量、飽和輻照功率、死像元、過熱像元、噪聲等效功率。
———修改了部分參數的測試方法,如:響應率、噪聲電壓、噪聲等效溫差、探測率、動態范圍、相對光譜響應、串音。
本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出。
本標準由工業和信息化部電子工業標準化研究所歸口。
本標準起草單位:中國科學院上海技術物理研究所。
本標準主要起草人:丁瑞軍、梁平治、唐紅蘭、陳洪雷、曹嫵媚、殷建軍、陳世軍。
本部所代替標準的歷次版本發布情況為:
———GB/T17444—1998。

標準目錄

前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 術語和定義 1
3 符號和單位 4
4 測試方法 5
4.1 方法3001:響應率和響應率不均勻性 5
4.2 方法3002:噪聲電壓 8
4.3 方法3003:探測率 9
4.4 方法3004:噪聲等效溫差 9
4.5 方法3005:有效像元率 10
4.6 方法3006:固定圖形噪聲 11
4.7 方法3007:噪聲等效功率 11
4.8 方法3008:飽和輻照功率 12
4.9 方法3009:動態范圍 12
4.10 方法3010:相對光譜響應 13
4.11 方法3011:讀出速率、幀頻 14
4.12 方法3012:串音 15
附錄A (規范性附錄) 響應率的其他表示 17
附錄B(規范性附錄) 空間噪聲 18
附錄C (資料性附錄) 備用特性參數及相關量 19
附錄D (資料性附錄) 調制傳遞函數測試方法 20
附錄E (資料性附錄) 非線性度測試方法 22
附錄F(規范性附錄) 一種推薦算法 23

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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