
Blank detail specification for semiconductor integrated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 14119-1993
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 14119-1993
發(fā)布時(shí)間:1993-01-21
實(shí)施時(shí)間:1993-08-01
首發(fā)日期:1993-01-21
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類:集成電路、微電子學(xué)
起草單位:集成電路標(biāo)委會(huì)
歸口單位:全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門:國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本規(guī)范規(guī)定了編制半導(dǎo)體集成電路雙極熔絲式可編程只讀存儲(chǔ)器詳細(xì)規(guī)范的基本原則。本規(guī)范是半導(dǎo)體集成電路一系列空白詳細(xì)規(guī)范中的一個(gè),它應(yīng)與GB 4589.1《半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路總規(guī)范》和GB 12750《半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范》一起使用。
推薦檢測(cè)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦認(rèn)證機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦培訓(xùn)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~