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低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗(yàn)方法

Basic testing method for low-voltage switchgear and controlgear assemblies
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 10233-2005
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 10233-2005
發(fā)布時間:2005-02-06
實(shí)施時間:2005-08-01
首發(fā)日期:1988-12-22
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:陳雪梅、劉淑敏、俞秀文、劉輝、劉霞、龍靜、鄒一、齊赫男、張春香、李慧英、張建成、蔣小波、劉志崇
作廢日期:2016-09-01
出版機(jī)構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 低壓配電電器
ICS分類:熔斷器和其他過載保護(hù)裝置
提出單位:中國電器工業(yè)協(xié)會
起草單位:天津電氣傳動設(shè)計(jì)研究所;國家電控配電設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心;天水電氣傳動研究所
歸口單位:全國低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門:中國電器工業(yè)協(xié)會
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備(以下簡稱設(shè)備)的型式試驗(yàn)和出廠試驗(yàn)的基本方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于GB 7251.1-2005和GB/T 3797-2005所規(guī)定的試驗(yàn)項(xiàng)目。
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