電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn) 已作廢
Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17626.4-2008
GB/T17626的本部分涉及電氣和電子設(shè)備對(duì)重復(fù)性電快速瞬變的抗擾度要求和試驗(yàn)方法。此外,還規(guī)定了試驗(yàn)等級(jí)的范圍,確定了試驗(yàn)程序。本部分的目的是為評(píng)估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)、控制和接地端口在受到電快速瞬變(脈沖群)干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù)。本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法描述了一種評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)已定義現(xiàn)象抗擾度的一致性方法。注:本部分是全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)的電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的一部分,專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定本抗擾度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)部分是否適用。如果適用,專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)等級(jí)和性能判據(jù)。負(fù)責(zé)本部分的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)愿意與專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)在其產(chǎn)品特殊的抗擾度試驗(yàn)值評(píng)估方面合作。本部分規(guī)定了下列幾項(xiàng):---試驗(yàn)電壓波形;---試驗(yàn)等級(jí)的范圍;---試驗(yàn)設(shè)備;---試驗(yàn)設(shè)備的校驗(yàn)程序;---試驗(yàn)配置;---試驗(yàn)程序。本部分給出了在實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)和安裝后試驗(yàn)的技術(shù)規(guī)范。
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GB/T17626 《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》目前包括以下部分: GB/T17626.1-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論 GB/T17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.4-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.5-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.6-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度 GB/T17626.7-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則 GB/T17626.8-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.9-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.10-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.11-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.12-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.13-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.14-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.16-2007 電磁兼容 試驗(yàn)與測(cè)量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.17-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.27-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.28-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.29-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn) 本部分為GB/T17626的第4部分。 本部分等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-4:2004(第2版)《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》及其第1號(hào)勘誤表(2006年8月)和第2號(hào)勘誤表(2007年6月)。 本部分代替GB/T17626.4-1998《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》。 本部分與GB/T17626.4-1998的主要差異如下: 1) 在第1章范圍中增加了注釋。 2) 刪去了引用標(biāo)準(zhǔn)IEC68-1:1988《環(huán)境試驗(yàn) 第一部分:總則和導(dǎo)則》。 3) 增加了3個(gè)術(shù)語和定義。 4) 修改了表1 試驗(yàn)等級(jí),增加了100kHz的重復(fù)頻率和兩個(gè)注釋。 5) 修改了對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求,修改了快速瞬變脈沖群發(fā)生器特性的校驗(yàn)方法,增加了對(duì)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)性能校驗(yàn)內(nèi)容,新增圖14。 6) 修改了試驗(yàn)配置,增加了圖8。 7) 修改了對(duì)氣候條件要求,對(duì)試驗(yàn)時(shí)間進(jìn)行詳細(xì)描述。 8) 修改了試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定方法。 9) 修改了試驗(yàn)報(bào)告的要求。 10) 將原來的附錄A 擴(kuò)充為附錄A 和附錄B,增加了附錄A 關(guān)于電快速瞬變的信息。 本部分的附錄A 和附錄B均為資料性的附錄。 本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC246)提出并歸口。 本部分負(fù)責(zé)起草單位:上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所、國(guó)網(wǎng)武漢高壓研究院。 本部分主要起草人:王英、楊彥、陳楠、萬保權(quán)、翁海豐、洪濟(jì)曄。 本部分代替標(biāo)準(zhǔn)歷次版本的發(fā)布情況為: ---GB13926.4-1992; ---GB/T17626.4-1998。 |
| 前言Ⅲ １ 范圍１ ２ 規(guī)范性引用文件１ ３ 術(shù)語和定義１ ４ 概述３ ５ 試驗(yàn)等級(jí)３ ６ 試驗(yàn)設(shè)備４ ７ 試驗(yàn)配置８ ８ 試驗(yàn)程序１４ ９ 試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定１６ １０ 試驗(yàn)報(bào)告１６ 附錄Ａ（資料性附錄）關(guān)于電快速瞬變的信息１７ Ａ．１引言１７ Ａ．２尖峰幅度１７ Ａ．３上升時(shí)間１７ Ａ．４尖峰持續(xù)時(shí)間１７ Ａ．５尖峰重復(fù)率１７ Ａ．６尖峰／脈沖群的個(gè)數(shù)和脈沖群持續(xù)時(shí)間１８ 附錄Ｂ（資料性附錄）試驗(yàn)等級(jí)的選擇１９ 參考文獻(xiàn)２０ |
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