半導體X射線探測器系統和半導體X射線能譜儀的測量方法 現行
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
標準號：GB/T 11685-2003
基本信息
標準號：GB/T 11685-2003
發布時間：2003-07-07
實施時間：2004-01-01
首發日期：1989-10-14
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：熊正隆
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 核儀器與核探測器綜合
ICS分類：核能綜合
提出單位：全國核儀器儀表標準化技術委員會
起草單位：核工業標準化研究所
歸口單位：核工業標準化研究所
發布部門：國防科學技術工業委員會
主管部門：國防科學技術工業委員會
標準簡介
本標準規定了半導體x射線探測器系統和半導體x射線能譜儀主要特性的測量方法。本標準適用于半導體x射線探測器系統和半導體x射線能譜儀主要性能的測量。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
