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透射電子顯微鏡 試驗(yàn)方法 已廢止

Test method for the transmission electron microscope

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JB/T 9352-1999

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JB/T 9352-1999
發(fā)布時(shí)間：1999-08-06
實(shí)施時(shí)間：2000-01-01
首發(fā)日期：
出版單位：機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2010-01-20
出版機(jī)構(gòu)：機(jī)械工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)： 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類(lèi)：  17.080.30
提出單位：全國(guó)光學(xué)和全國(guó)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位：上海電子光學(xué)技術(shù)研究所、上海光學(xué)儀器研究所
歸口單位：全國(guó)光學(xué)和全國(guó)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén)：國(guó)家機(jī)械工業(yè)局

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了透射電子顯微鏡(以下簡(jiǎn)稱(chēng)電鏡)的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透射電鏡主機(jī)性能的試驗(yàn)。

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