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靜電復印光導體表面缺陷測量方法 現行

Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process

標準號：JB/T 8268-2015

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基本信息

標準號：JB/T 8268-2015
發布時間：2015-04-30
實施時間：2015-10-01
首發日期：
出版單位：機械工業出版社查看詳情>
起草人：劉慧玲、張希平、王強、劉生應、魯麗平、陳挺、仇相如、麥洪琦、陳頌昌、魯俊和
出版機構：機械工業出版社
標準分類： 縮微復印機械
ICS分類：印刷、復制設備
提出單位：中國機械工業聯合會
起草單位：天津復印技術研究所、珠海天威飛馬打印耗材有限公司、夏普辦公設備（常熟）有限公司等
歸口單位：全國復印機械標準化技術委員會（SAC/TC 147）
發布部門：中華人民共和國工業和信息化部
主管部門：全國復印機械標準化技術委員會（SAC/TC 147）

標準簡介

本標準規定了靜電復印光導體表面缺陷的測量條件、測量方法及測量報告。本標準適用于靜電復印（打印、傳真、多功能）設備用的光導體的外觀質量及背景印跡的測量。

標準摘要

本標準按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草。
本標準代替JB/T 8268-1999《靜電復印感光體表面缺陷測量方法》，與JB/T 8268-1999相比主要技術變化如下：
——修改了標準名稱，感光體改為光導體；
——將適用范圍中的感光體改為光導體，刪除了硒鼓、硫化鎘鼓等已不再使用的感光體，刪除了反光鏡可參照使用（見第1章，1999年版的第1章）；
——修改了規范性引用文件（見第2章，1999年版的第2章）；
——修改了測量環境條件（見3.1，1999年版的3.1）；
——將有效測量范圍放入了測量方法中，刪除了測量范圍示意圖（見4.1.2，1999年版的3.2和圖1）；
——增加了測試用樣機的要求（見3.2）；
——修改了測量方法的編排格式（見第4章，1999年版的第4章）；
——修改了目視檢查的方法（見4.1，1999年版的4.1），刪除了目視檢查鼓表面示意圖（見1999年版的圖2）；
——把缺陷版檢查改為對比測量，并修改了檢查方法（見4.2，1999年版的4.2）；
——修改了背景印跡的測量方法（見4.3，1999年版的4.3）；
本標準由中國機械工業聯合會提出。
本標準由全國復印機械標準化技術委員會（SAC/TC 147）歸口。
本標準起草單位：天津復印技術研究所、珠海天威飛馬打印耗材有限公司、夏普辦公設備（常熟）有限公司、理光圖像技術（上海）有限公司深圳分公司、湖北鼎龍化學股份有限公司、柯尼卡美能達（中國）投資有限公司、上海富士施樂有限公司、兄弟（中國）商業有限公司、東芝泰格信息系統（深圳）有限公司、佳能（中國）有限公司。
本標準主要起草人：劉慧玲、張希平、王強、劉生應、魯麗平、陳挺、仇相如、麥洪琦、陳頌昌、魯俊和。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為：
——JB/T 8268-1995（GB 10996-1989）、JB/T 8268-1999。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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