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半導體X射線能譜儀的測試方法 已作廢

Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

標準號：GB/T 11685-1989

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基本信息

標準號：GB/T 11685-1989
發布時間：1989-10-14
實施時間：1990-05-01
首發日期：
起草人：
作廢日期：2004-01-01
標準分類： 核儀器與核探測器綜合
ICS分類：輻射測量

標準簡介

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