當(dāng)前位置:
首頁(yè) >
純銠中雜質(zhì)素的發(fā)射光譜分析

Determination of trace impurities in purity rhodium by atomic emission spectrometric
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):YS/T 363-2006
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):YS/T 363-2006
發(fā)布時(shí)間:2006-05-25
實(shí)施時(shí)間:2006-12-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:文勁松、方 衛(wèi)、李楷中
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 貴金屬及其合金分析方法
ICS分類:金屬材料化學(xué)分析
提出單位:全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位:貴研鉑業(yè)服從有限公司
歸口單位:全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家發(fā)展和改革委員會(huì)
主管部門:國(guó)家發(fā)展和改革委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了純銠中雜質(zhì)素含量的測(cè)定方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于純銠中雜質(zhì)素的測(cè)定,測(cè)定范圍應(yīng)符合表1的規(guī)定。
推薦檢測(cè)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦認(rèn)證機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦培訓(xùn)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~