
Accelerated stress testing procedures for electric and electronic products—Guidance for highly accelerated life test
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 29309-2012
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高加速壽命試驗(yàn)(HighlyAcceleratedLifeTest,HALT)的一般要求、試驗(yàn)準(zhǔn)備和試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高加速壽命試驗(yàn),施加的試驗(yàn)應(yīng)力包括高溫步進(jìn)、低溫步進(jìn)、快速溫度變化循環(huán)、六自由度非高斯寬帶隨機(jī)振動(dòng)等應(yīng)力。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對(duì)于大型整機(jī),宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級(jí)別(如印制電路板組件、子模塊)上進(jìn)行試驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計(jì)和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。
本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)質(zhì)量監(jiān)管重點(diǎn)產(chǎn)品檢驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC374)提出并歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院、中檢華納(北京)質(zhì)量技術(shù)中心有限公司。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:楊彥彰、朱建華、張華、李巖、張燦文、陳顯顧。 |
前言 Ⅰ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語和定義 1 4 一般要求 3 5 試驗(yàn)準(zhǔn)備 4 6 試驗(yàn)方法 5 7 相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息 10 8 試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)給出的信息 10 附錄A (資料性附錄) 高加速壽命試驗(yàn)裝置 12 附錄B(資料性附錄) 試驗(yàn)流程圖 15 附錄C(資料性附錄) 應(yīng)力隔離 16 附錄D(規(guī)范性附錄) 應(yīng)力極限確認(rèn) 17 |
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