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低溫下晶體透射率的試驗方法
低溫下晶體透射率的試驗方法 現行
Method for testing cryogenic transmissivity of crystals
標準號：GB/T 16864-1997
基本信息
標準號：GB/T 16864-1997
發布時間：1997-06-16
實施時間：1997-12-01
首發日期：1997-06-16
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 儀器、儀表用材料和元件
ICS分類：光學和光學測量綜合
起草單位：中國科學院物理研究所
歸口單位：中國科學院
發布部門：國家技術監督局
主管部門：中國科學院
標準簡介
本標準規定了低溫下(300K~20K),波長在紫外-近紅外的晶體透射率的試驗方法。本標準適用于晶體透射率的測試。
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