輻射防護(hù)儀器 便攜式表面污染光子測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀 現(xiàn)行
Radiation protection instrumentation—Portable photon contamination meters and monitors
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 29788-2013
本標(biāo)準(zhǔn)適用于直接測(cè)量或直接探測(cè)由發(fā)射光子輻射的核素造成表面污染的便攜式和移動(dòng)式污染測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀,它至少包括:———探測(cè)裝置(計(jì)數(shù)管、閃爍探測(cè)器或半導(dǎo)體探測(cè)器等),它們可以采用剛性連接或電纜連接或者組成一單獨(dú)的裝置;———測(cè)量裝置。本標(biāo)準(zhǔn)適用于:———表面污染光子測(cè)量?jī)x;———表面污染光子監(jiān)測(cè)儀。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量發(fā)射能量超過5keV 光子的核素造成污染的探測(cè)裝置。本標(biāo)準(zhǔn)特別用于評(píng)價(jià)那些證明物體未受到發(fā)射光子核素表面污染的裝置性能。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于那些有特殊用途的儀器和為使用者提供有限光譜信息而特別設(shè)計(jì)的儀器。注:這些探測(cè)裝置可能用于測(cè)量同時(shí)產(chǎn)生α和β輻射的核素產(chǎn)生的光子輻射,在這種情況下,可根據(jù)污染類型屏蔽α和β輻射。嚴(yán)格地講,如果進(jìn)行了屏蔽,污染是發(fā)生在被監(jiān)測(cè)物體的附近而不是在其表面。本標(biāo)準(zhǔn)的目的是規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)要求和給出一些適用方法的實(shí)例,還規(guī)定了光子污染測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀的一般特性、一般試驗(yàn)條件、輻射特性、電氣安全、環(huán)境特性以及合格證書要求。
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本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分:標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》給出的規(guī)則起草。 本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用IEC62363:2008《輻射防護(hù)儀器 便攜式表面污染光子測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀》。 與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下: ———GB/T2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊(IEC60068-2-27:1987,IDT); ———GB/T8897(所有部分) 原電池[IEC60086(所有部分)]。 為了便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)IEC62363:2008做了下列編輯性修改: ———在“2 規(guī)范性引用文件”中將已有相應(yīng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)改為我國(guó)的標(biāo)準(zhǔn);刪除未在正文中引用的國(guó)際計(jì)量局《國(guó)際單位制(SI)》(1998年第7版); ———在“3 術(shù)語(yǔ)和定義”中刪去有些定義下面的IEV、ISO 編號(hào); ———5.1和6.3增加列項(xiàng)說明符號(hào)“———”; ———7.1.1列項(xiàng)說明符號(hào)由“·”改為“———”; ———7.2.2第4段中的“Ms”應(yīng)為“Mi”; ———8.5.1列項(xiàng)說明符號(hào)由“·”改為“———”,“適用的核素是:”后增加列項(xiàng)說明符號(hào)“———”,將半衰期的years改為a; ———8.6.1增加列項(xiàng)說明符號(hào)“———”; ———表3“探測(cè)限”一欄的“影響量的數(shù)值范圍”使用“劑量當(dāng)量率”,而在8.10.1中則使用“空氣比釋動(dòng)能率”,統(tǒng)一使用“空氣比釋動(dòng)能率”; ———表3“預(yù)熱時(shí)間”一欄的“指示值變化限值”使用“參考條件”,而在7.4.1中則使用“標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件”,統(tǒng)一使用“標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件”; ———表A.1的注1刪去括號(hào)中的“分別為1英寸、2英寸和3英寸”。 本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)防科技工業(yè)局提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC30)歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:西安核儀器廠。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:孫力平、楊妮瑩。 |
| 前言 Ⅲ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語(yǔ)和定義 2 4 單位 5 5 一般特性 5 5.1 分類 5 5.2 探測(cè)裝置 5 5.3 易于去污 5 5.4 密封 5 5.5 報(bào)警閾 5 5.6 脈沖幅度閾值 6 5.7 測(cè)量裝置的指示值 6 5.8 有效測(cè)量范圍 6 5.9 機(jī)械沖擊 6 5.10 電子設(shè)備的調(diào)整和維護(hù)工具 7 6 一般試驗(yàn)方法 7 6.1 試驗(yàn)特性 7 6.2 試驗(yàn)條件 7 6.3 參考核素 9 6.4 本底 9 6.5 統(tǒng)計(jì)漲落 9 6.6 試驗(yàn)源 9 7 電氣特性 9 7.1 統(tǒng)計(jì)漲落 9 7.2 響應(yīng)時(shí)間 10 7.3 響應(yīng)時(shí)間與統(tǒng)計(jì)漲落之間的關(guān)系 10 7.4 預(yù)熱時(shí)間試驗(yàn) 10 7.5 過載保護(hù) 11 7.6 電池供電 11 8 輻射特性 12 8.1 概述 12 8.2 探測(cè)器響應(yīng)分布圖 12 8.3 表面發(fā)射率響應(yīng) 13 8.4 相對(duì)固有誤差 14 8.5 表面發(fā)射率響應(yīng)隨光子輻射能量的變化 15 8.6 響應(yīng)隨吸收的變化 15 8.7 對(duì)β輻射的響應(yīng) 16 8.8 對(duì)光子輻射本底的響應(yīng) 16 8.9 中子 17 8.10 探測(cè)限(單位面積最小可探測(cè)表面發(fā)射率) 17 9 環(huán)境特性 17 9.1 環(huán)境溫度 17 9.2 相對(duì)濕度 18 9.3 電磁兼容性 18 10 儲(chǔ)存 18 10.1 概述 18 10.2 機(jī)械沖擊 18 11 文件 18 11.1 合格證書 18 11.2 操作和維修手冊(cè) 19 附錄A (資料性附錄) 典型探測(cè)器體積的限定距離 20 |
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu)，邀您申請(qǐng)入駐~
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