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無損檢測儀器 抽樣、出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)基本要求

Non-destructive testing instruments—General requirements for sampling,routine inspection and type inspection
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 33885-2017
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 33885-2017
發(fā)布時間:2017-07-12
實(shí)施時間:2018-02-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:林俊明、于志軍、沈建中、范弘、王子成、趙晉成
出版機(jī)構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類:無損檢測
提出單位:中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會
起草單位:愛德森(廈門)電子有限公司、遼寧儀表研究所、中國科學(xué)院聲學(xué)研究所、鋼鐵研究總院、武漢中科創(chuàng)新技術(shù)股份公司
歸口單位:全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 122)
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門:全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 122)
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了無損檢測儀器抽樣、出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)的基本要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于無損檢測儀器及成套裝備和功能設(shè)備附件(以下簡稱儀器)等。
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