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粒度分析 圖像分析法 第1部分：靜態圖像分析法 現行

Particle size analysis - Image analysis methods - Part 1: Static image analysis method

標準號：GB/T 21649.1-2008

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基本信息

標準號：GB/T 21649.1-2008
發布時間：2008-04-16
實施時間：2008-10-01
首發日期：2008-04-16
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：周素紅、鄒濤、陳縈、盧慶新、鄭毅、方建鋒
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 篩分、篩板與篩網
ICS分類：粒度分析、篩分
提出單位：全國篩網篩分和顆粒分檢方法標準化技術委員會
起草單位：北京市理化分析測試中心、北京鋼鐵研究總院
歸口單位：全國篩網篩分和顆粒分檢方法標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

ＧＢ／Ｔ２１６４９《粒度分析　圖像分析法》分為兩個部分，本部分是ＧＢ／Ｔ２１６４９的第１部分。本標準規定了利用靜態圖像分析法測定顆粒粒度分布的方法。本部分適用于測定能夠從顯微鏡中獲得圖像的顆粒的粒度分布。本部分修改采用ＩＳＯ１３３２２-１：２００４《粒度分析　圖像分析法　第１部分：靜態圖像分析法》（英文版）。

標準摘要

GB/T21649《粒度分析 圖像分析法》分為以下兩個部分:
---第1部分:靜態圖像分析法;
---第2部分:動態圖像分析法。
本部分是GB/T21649的第1部分。
本部分修改采用ISO133221:2004《粒度分析 圖像分析法 第1部分:靜態圖像分析法》(英文版)。
本部分與ISO133221比較,主要修改內容如下:
---在附錄B中增加了兩檔放大倍率,使測量范圍拓展到納米級。
---4.2條制樣方法的內容從正文移至附錄F(資料性附錄),并增加F.5支持膜法。
---對范圍進行了修改。
---對術語、縮略語、定義與符號進行了修改。
---對公式(4)進行了修改:
Pi =
(Z1 -XF1)(Z2 -ZF2)
Z1Z2
---將ISO13322-16.3.6.1條中示例改寫為檢定過的標準格柵或粒度標準物質。
本部分相對于ISO13322-1:2004刪除的內容如下:
---刪除5.2條中內容重復的b)、c)、d)、h)。
---將一些適用于國際標準的表述改寫為適用于我國標準的表述。
本部分的附錄A、附錄B、附錄C 為規范性附錄,附錄D、附錄E、附錄F為資料性附錄。
本部分由全國篩網篩分和顆粒分檢方法標準化技術委員會(SAC/TC168)提出并歸口。
本部分起草單位:北京市理化分析測試中心、鋼鐵研究總院。
本部分主要起草人:周素紅、鄒濤、陳縈、盧慶新、鄭毅、方建鋒。

標準目錄

前言Ⅰ
引言Ⅱ
1 范圍1
2 規范性引用文件1
3 術語、縮略語、定義與符號1
3.1 術語、縮略語與定義1
3.2 符號2
4 本方法要求的樣品制備3
4.1 總的推薦方法3
4.2 制樣方法4
5 圖像采集4
5.1 總則4
5.2 步驟4
5.3 圖像采集儀的操作條件4
6 顯微鏡和圖像分析5
6.1 總則5
6.2 粒度分級和放大5
6.3 計數步驟5
7 粒度的計算結果8
8 試驗報告9
附錄A(規范性附錄) 用于評估樣品平均粒徑所需的顆粒尺寸的研究10
附錄B(規范性附錄) 操作時的放大倍率23
附錄C(規范性附錄) 典型物鏡的分辨率和粒度區間24
附錄D(資料性附錄) 典型圖像分析法的流程圖25
附錄E(資料性附錄) 平均值和方差的統計檢驗(方差分析和多樣性比較) 26
附錄F(資料性附錄) 幾種制樣方法28
參考文獻30

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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