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半導體管特性圖示儀通用規范 現行

General specification test methods for semiconductor device curve tracers

標準號：GB/T 13973-2012

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基本信息

標準號：GB/T 13973-2012
發布時間：2012-12-31
實施時間：2013-06-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：吳宗蘇、徐正江、朱佩華、徐長風、俞見逸
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子測量與儀器綜合
ICS分類：電學、磁學、電和磁的測量
提出單位：中華人民共和國工業和信息化部
起草單位：上海新建儀器設備有限公司
歸口單位：全國電子測量儀器標準化技術委員會(SAC/TC 153)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國電子測量儀器標準化技術委員會(SAC/TC 153)

標準簡介

本標準規定了半導體管特性圖示儀的術語和定義、要求、測試方法、質量檢驗規則、標識、包裝、運輸、貯存等。本標準適用于測試半導體管特性曲線和直流參數的半導體管特性圖示儀,也適用于具有插入單元或附屬裝置的半導體管特性圖示儀。圖示儀的產品標準應滿足本標準的要求,當圖示儀的產品標準要求超出本標準要求時,應以產品標準為準。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T13973—1992《半導體管特性圖示儀通用技術條件》、GB/T13974—1992《半導體管特性圖示儀測試方法》。
本標準納入并調整了GB/T13973—1992、GB/T13974—1992中適用的內容。在環境適應性中各試驗項目按照GB/T6587—2012《電子測量儀器通用規范》中的有關規定。主要變化如下:
———增加了“術語和定義”(見第3章);
———增加了“基準工作條件”(見5.1);
———增加了“檢驗條件”(見5.2);
———增加了“集電極大電流偏轉系數”(見5.7.2.1.3);
———增加了“精密電阻器參考值”(見表3);
———增加了“階梯電流偏移和階梯電壓偏移”(見5.7.4.6、5.7.4.7)。
本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出。
本標準由全國電子測量儀器標準化技術委員會(SAC/TC153)歸口。
本標準起草單位:上海新建儀器設備有限公司。
本標準主要起草人:吳宗蘇、徐正江、朱佩華、徐長風、俞見逸。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為:
———GB/T13973—1992;
———GB/T13974—1992。

標準目錄

前言 Ⅲ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 術語和定義 1
3.1 通用 1
3.2 顯示部分 2
3.3 Y 軸及X 軸偏轉部分 2
3.4 階梯部分 3
3.5 集電極掃描部分 3
3.6 其他 4
4 要求 4
4.1 外觀與結構 4
4.2 尺寸和重量 4
4.3 功能正常性 4
4.4 性能特性 4
4.5 功率 8
4.6 安全 8
4.7 環境適應性 8
4.8 包裝運輸 10
4.9 電磁兼容性 10
4.10 電源適應性 10
4.11 可靠性 10
5 測試方法 10
5.1 基準工作條件 10
5.2 檢驗條件 11
5.3 測試要求 11
5.4 外觀與結構 12
5.5 尺寸和重量 12
5.6 功能正常性 12
5.7 性能特性 12
5.8 安全 28
5.9 環境適應性 29
5.10 包裝運輸 29
5.11 電磁兼容性 30
5.12 電源適應性 30
5.13 可靠性 30
6 質量檢驗規則 30
6.1 檢驗分類 30
6.2 檢驗項目 30
6.3 檢驗方法 30
6.4 鑒定檢驗 30
6.5 質量一致性檢驗 32
7 標志、包裝、運輸、貯存 34
7.1 標志 34
7.2 包裝 34
7.3 運輸 34
7.4 貯存 34
8 隨機文件和備附件 35

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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