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鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則

Guide for electron beam microananlysis of defect in steel materials
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 21638-2008
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 21638-2008
發(fā)布時(shí)間:2008-04-11
實(shí)施時(shí)間:2008-10-01
首發(fā)日期:2008-04-11
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:陳家光、李平和、朱衍勇、王濱、田青超
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器
ICS分類:有關(guān)化學(xué)分析方法的其他標(biāo)準(zhǔn)
提出單位:全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位:上海寶鋼股份公司技術(shù)中心、武漢鋼鐵集團(tuán)公司技術(shù)中心、北京鋼鐵研究總院、上海材料研究所
歸口單位:全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析的術(shù)語、分析方法和程序、分析報(bào)告內(nèi)容等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于鋼鐵材料內(nèi)部及表面缺陷的電子束顯微分析。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A 為資料性附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:寶鋼股份公司研究院、武漢鋼鐵集團(tuán)公司技術(shù)中心、北京鋼鐵研究總院及上海材料研究所。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陳家光、李平和、朱衍勇、王濱、田青超。 |
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