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X射線熒光光譜法測定氫氧化鋁中SiO2、Fe2O3、Na2O含量 現行

Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method

標準號：YS/T 702-2009

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基本信息

標準號：YS/T 702-2009
發布時間：2009-12-04
實施時間：2010-06-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：秦文忠、鄧文軍、楊韻屏、梁愈斌、何麒麟、張愛芬、馬慧俠、蔣煒、鄧飛、孫洪斌
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 冶金原料與輔助材料綜合
ICS分類：鋁和鋁合金
提出單位：全國有色金屬標準化技術委員會
起草單位：中國鋁業股份有限公司廣西分公司
歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國工業和信息化部
主管部門：全國有色金屬標準化技術委員會

標準簡介

本標準規定了規定了X射線熒光光譜法測定氫氧化鋁中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、儀器設備、分析步驟及分析重復性、精密性等。本標準適用于氫氧化鋁中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的測定。測定范圍：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。

標準摘要

本標準由全國有色金屬標準化技術委員會提出并歸口。
本標準附錄A 為資料性附錄。
本標準由中國鋁業股份有限公司廣西分公司負責起草。
本標準參加起草單位:中國鋁業股份有限公司鄭州研究院、洛陽香江萬基鋁業有限公司、中國鋁業有限公司河南分公司。
本標準主要起草人:秦文忠、鄧文軍、楊韻屏、梁愈斌、何麒麟、張愛芬、馬慧俠、蔣煒、鄧飛、孫洪斌。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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