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石英晶體元件參數的測量 第7部分：石英晶體元件活性跳變的測量 現行

Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units

標準號：GB/T 22319.7-2015

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基本信息

標準號：GB/T 22319.7-2015
發布時間：2015-06-02
實施時間：2016-02-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：章怡、梁生元、胡志雄、鄒飛
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 石英晶體、壓電元件
ICS分類：壓電器件和介質器件
提出單位：中華人民共和國工業和信息化部
起草單位：中國電子元件行業協會壓電晶體分會、南京中電熊貓晶體科技有限公司、唐山晶源裕豐電子股份有限公司、鄭州原創電子科技有限公司
歸口單位：全國頻率控制和選擇用壓電器件標準化技術委員會(SAC/TC182)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）

標準簡介

GB/T22319的本部分規定了在溫度范圍內石英晶體元件活性跳變的測量方法。

標準摘要

GB/T22319《石英晶體元件參數的測量》分為如下幾部分:
———第1部分:用π型網絡零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法;
———第2部分:測量石英晶體元件動態電容的相位偏置法;
———第4部分:頻率達30MHz石英晶體元件負載諧振頻率和負載諧振電阻RL 的測量方法及其
他導出參數的計算;
———第5部分:采用自動網絡分析技術和誤差校正確定等效電參數的方法;
———第6部分:激勵電平相關性(DLD)的測量;
———第7部分:石英晶體元件活性跳變的測量;
———第8部分:表面貼裝石英晶體元件用測量夾具;
———第9部分:石英晶體元件寄生諧振的測量。
本部分為 GB/T22319的第7部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本部分使用翻譯法等同采用IEC60444-7:2004《石英晶體元件參數的測量 第7部分:石英晶體元件活性跳變和頻率跳變的測量》。
本部分作了下列編輯性修改:
———將表1中腳注“*”改為腳注“a”;
———將3.3中評估公式序號(A)~(D)分別改為a)~d);
———刪除評估公式a)前面的“頻率跳變”和公式c)前面的“活性跳變”。
請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任。
本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出。
本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標準化技術委員會(SAC/TC182)歸口。
本部分起草單位:中國電子元件行業協會壓電晶體分會、南京中電熊貓晶體科技有限公司、唐山晶源裕豐電子股份有限公司、鄭州原創電子科技有限公司。
本部分主要起草人:章怡、梁生元、胡志雄、鄒飛。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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