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脈沖X射線激發(fā)閃爍體熒光衰減時(shí)間測試方法 現(xiàn)行

Test method for fluorescent decay time of scintillators excited by pulsed X-ray

標(biāo)準(zhǔn)號：JC/T 2026-2010

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：JC/T 2026-2010
發(fā)布時(shí)間：2010-11-22
實(shí)施時(shí)間：2011-03-01
首發(fā)日期：
出版單位：建材工業(yè)出版社查看詳情>
起草人：
出版機(jī)構(gòu)：建材工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 特種陶瓷
ICS分類：高級陶瓷
起草單位：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國工業(yè)陶瓷標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：中華人民共和國工業(yè)和信息化部

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)適用于固體閃爍體的熒光衰減時(shí)間測試，固體閃爍體形態(tài)包括薄膜、塊體和粉末。本標(biāo)準(zhǔn)適用于固體閃爍體的熒光衰減時(shí)間測試，固體閃爍體形態(tài)包括薄膜、塊體和粉末

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