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銅鎢電觸頭缺陷檢測(cè)方法 現(xiàn)行

Test method of flaws of Cu-W contact

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 24300-2009

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 24300-2009
發(fā)布時(shí)間：2009-09-30
實(shí)施時(shí)間：2010-02-01
首發(fā)日期：2009-09-30
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：陳曉、陳樂生、吳文安、鄭元龍、王小軍、謝永忠、楊清、趙俊、馬大號(hào)、陳京生
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電工合金零件
ICS分類：其他電工器件
提出單位：中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位：溫州宏豐電工合金有限公司、桂林金格電工電子材料科技有限公司、桂林電器科學(xué)研究所
歸口單位：全國電工合金標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 228)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國電工合金標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 228)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用滲透探傷檢測(cè)銅鎢電觸頭的裂紋、孔洞和局部疏松以及銅鎢整體電觸頭的界面裂紋和夾雜物、銅端裂紋和氣孔等常見缺陷的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)銅鎢電觸頭和銅鎢整體電觸頭開放性缺陷的檢測(cè)。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于對(duì)銅鎢電觸頭和銅鎢整體電觸頭封閉性缺陷的檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工合金標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC228)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:溫州宏豐電工合金有限公司、桂林金格電工電子材料科技有限公司、桂林電器科學(xué)研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:遼寧金昌新材料有限公司、中希合金有限公司、陜西斯瑞工業(yè)有限責(zé)任公司、溫州聚星銀觸點(diǎn)有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陳曉、陳樂生、吳文安、鄭元龍、王小軍、謝永忠、楊清、趙俊、馬大號(hào)、陳京生。

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