納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定 X射線衍射線寬化法 現行
Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method
標準號：GB/T 23413-2009
基本信息
標準號：GB/T 23413-2009
發布時間：2009-04-01
實施時間：2009-12-01
首發日期：2009-04-01
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：方建鋒、鄭毅、李琪、張晉遠、柳春蘭、朱瑞珍
出版機構：中國標準出版社
標準分類： X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類：無損檢測
提出單位：全國微束標準化技術委員會
起草單位：鋼鐵研究總院、首鋼技術研究院
歸口單位：全國微束標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應變的方法。本標準采用的計算方法是近似函數法。本標準適用于測定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應變一般不大于0.1%的納米材料。
標準摘要
|
本標準的附錄Ａ 為規范性附錄。 本標準由全國微束標準化技術委員會提出并歸口。 本標準起草單位：鋼鐵研究總院、首鋼技術研究院。 本標準主要起草人：方建鋒、鄭毅、李琪、張晉遠、柳春蘭、朱瑞珍。 |
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
