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硅的儀器中子活化分析測試方法 現(xiàn)行

Test method for instrumental neutron activation analysis (INAA) of silicon

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 32277-2015

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 32277-2015
發(fā)布時間：2015-12-10
實施時間：2017-01-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：李智偉、張亞東、張新、姚淑、銀波、邱艷梅
出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法
ICS分類：金屬材料試驗
提出單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)、全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會材料分會(SAC/TC 203/SC 2)
起草單位：樂山樂電天威硅業(yè)科技有限責(zé)任公司、中國原子能科學(xué)研究院、新特能源股份有限公司
歸口單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)、全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會材料分會(SAC/TC 203/SC 2)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

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