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高純砷化學分析方法 電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）測定高純砷中雜質含量 現行

Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Inductive coupling plasma mass spectrum (ICP-MS) for determinating the concentration of elements in the high-purity arsenic

標準號：YS/T 34.1-2011

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基本信息

標準號：YS/T 34.1-2011
發布時間：2011-12-20
實施時間：2012-07-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：程高明、鄒同貴、文英、唐云博、廖敏
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半金屬及半導體材料分析方法
ICS分類：金屬材料化學分析
起草單位：峨嵋半導體材料廠、峨眉山嘉美高純材料有限公司
歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國工業和信息化部
主管部門：全國有色金屬標準化技術委員會

標準簡介

本標準規定了高純砷中金屬雜質含量的測定方法，采用電感耦合等離子質譜法測定砷中鎂、鉻、鎳、銅、鋅、銀、銻、鉛、鉍、鈉、鉀、鋁、鈣、鐵等14個雜質含量。本標準適用于99.999%～99.99999%高純砷中金屬雜質含量的測定。測定范圍1×10-7% ～1000×10-7% 。

標準摘要

YS/T34《高純砷化學分析方法》包括3個部分:
———第1部分:高純砷化學分析方法 電感耦合等離子體質譜法(ICP-MS)測定高純砷中雜質
含量;
———第2部分:高純砷化學分析方法 極譜法測定硒量;
———第3部分:高純砷化學分析方法 極譜法測定硫量。
本部分是YS/T34的第1部分。
本部分代替YS/T34.1—1992《高純砷化學分析方法 孔雀綠分光光度法測定銻量》和YS/T34.2—1992《高純砷化學分析方法 化學光譜法測鈷、鋅、銀、銅、鈣、鋁、鎳、鉻、鉛、鎂、鐵量》。
本部分與YS/T34.1~34.2—1992標準相比,主要有如下變動:
———采用電感耦合等離子質譜法測定高純砷中鎂、鉻、鎳、銅、鋅、銀、鉛、鉍、鈉、鉀、鋁、鈣、鐵、銻等14個雜質的含量。
———按照GB/T1.1—2009《標準化工作導則 第1部分:標準的結構和編寫》的規定編寫。
本部分由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。
本部分負責起草單位:峨嵋半導體材料廠、峨眉山嘉美高純材料有限公司。
本部分主要起草人:程高明、鄒同貴、文英、唐云博、廖敏。
本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:
———YS/T34.1~34.2—1992。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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