當前位置：
首頁 >
芯片相似性比對檢方方法
芯片相似性比對檢方方法 現行
Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
標準號：GA/T 1171-2014
基本信息
標準號：GA/T 1171-2014
發布時間：2014-07-09
實施時間：2014-07-09
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：沙晶、金波、杭強偉、蔡立明、徐雋
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半導體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學
提出單位：公安部第三研究所
起草單位：公安部第三研究所
歸口單位：公安部信息系統安全標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國公安部
主管部門：公安部信息系統安全標準化技術委員會
標準簡介
本標準規定了集成電路芯片相似性比對檢驗方法。本標準適用于集成電路芯片相似性比對,檢驗集成電路芯片設計的相似性。
標準摘要
|
本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。 本標準由公安部第三研究所提出。 本標準由公安部信息系統安全標準化技術委員會歸口。 本標準起草單位:公安部第三研究所。 本標準主要起草人:沙晶、金波、杭強偉、蔡立明、徐雋。 |
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
