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微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導則 現行

Microbeam analysis—Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

標準號：GB/T 30703-2014

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基本信息

標準號：GB/T 30703-2014
發布時間：2014-06-09
實施時間：2014-12-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：張作貴、田青超、陳家光、曾毅。
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：物理化學分析方法
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
起草單位：上海發電設備成套設計研究院、寶鋼集團中央研究院、中國科學院上海硅酸鹽研究所。
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)

標準簡介

本標準給出了使用電子背散射衍射(EBSD)技術進行晶體取向測量的指南,使測量數據具有較高的可靠性和重復性,本標準確立了試樣制備、儀器配置、校正以及數據采集的一般原則。本標準適用于EBSD對塊狀晶體樣品的晶粒取向分析。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準使用翻譯法等同采用國際標準:ISO24173:2009《微束分析 電子背散射衍射取向測定方法導則》。
與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:
———GB/T27025—2008 檢測和校準實驗室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準起草單位:上海發電設備成套設計研究院、寶鋼集團中央研究院、中國科學院上海硅酸鹽研究所。
本標準主要起草人:張作貴、田青超、陳家光、曾毅。

標準目錄

前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 術語和定義 1
4 EBSD設備 6
5 操作條件 7
6 EBSP指數標定所需的校正 11
7 分析過程 14
8 測量不確定度 14
9 分析結果的發布 15
附錄A (資料性附錄) EBSD的工作原理 16
附錄B(規范性附錄) EBSD的試樣制備 17
附錄C(資料性附錄) 晶體學、EBSP標定及其他與EBSD相關的有用資料 22
參考文獻

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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